Программа предназначена расчета поглощенных доз электронов и протонов в произвольных точках 3D-моделей объектов в САПР SolidWorks и эквивалентного потока (флюенса) протонов на поверхностях их компонентов – корпусах элементов, блоков, сборок.

Входными данными являются 3D-модель объекта, содержащая данные о массе и (или) плотности входящих в него компонентов, зависимости «толщина защиты – поглощенная доза» и «толщина защиты – суммарный поток протонов».

Расчет производится на основе метода секторного («лучевого») анализа защиты элементов объекта в местах их расположения путем разбиения 4π пространства на сектора (лучи), вычисления массовой толщины защиты в [г/см²] по выбранному направлению луча и сопоставления рассчитанной таким образом массовой толщины защиты в каждом секторе соответствующей дозе [рад] или суммарному потоку протонов [протон/см²].

Выходными данными для задаваемых оператором расчетных точек и лучей являются массовая толщина защиты в каждом секторе, поглощенные дозы электронов и протонов, соответствующие коэффициенты ее ослабления, суммарная поглощенная доза всех их видов от нескольких источников, флюенс протонов на поверхностях анализируемых компонентов 3D-модели.

В программе реализованы способ рекурсивного разбиения 4π пространства на сектора (генерации лучей) с использованием икосаэдра и средства визуализации результатов расчета. Программа может применяться на ранних этапах проектирования космических аппаратов для определения локальных радиационных условий в местах расположения полупроводниковых изделий электронной техники, чувствительных к воздействию заряженных частиц космического пространства.